SJ 50033.117-1997 半导体分立器件2CK38型硅大电流开关二极管详细规范
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C2A76C1B95064962950AD22EBCB8140D |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/117-97,半导体分立器件,2CK38型硅大电流开关二极管,详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2CK38,silicon large current switch diode,1997.06.17 发布 1997-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2CK38型硅大电流开关二极管详细规范 05。。33/切ー97,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2CK38,silicon large current switch diode,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 2CK38型硅大电流开关二极管(以下简称器件)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,每种器件按GJB 33—85《半导体分立器件总规范》1.3的规定,提供的质量等级为普军、特,军和超特军级三个等级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4023-86半导体分立器件第二部分:整流二极管,GB 6571-86小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法,GJB 33-85半导体分立器件总规范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应符合GJB 33及本规范的规定,3.2 设计和结构,器件的设计和结构应符合GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料应为可伐,引出端表面镀涂层为镀鎳层。对引出端材料和涂层另有要求时,在,合同或订货单中应明确规定(见6.2)O,中华人民共和国电子工业部!997-06-17发布 !997-10-01实施,一 1 一,SJ 50033/117-97,3.2.2 器件结构,器件采用硅外延平面结构,芯片表面采用钝化膜保护,芯片与引出端之间采用超声键合,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸符合本规范图1的规定,鴻B2—01B,min nom max,A 9.8,1.52,0.9 1.1,初15.0,d 3.0*,F 3.0,L 8.5 10.5,レ1.5,归4.0 4.2,q 22.8 23.2,Ri * 9.5,Ri 4,3,s 13.1*,q 31.4,u2 19.0,ヽ'〉正极,2…,管座:负极,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1 最大额定值,SJ 50033/117-97,罂号,Vrwm,V,厶”,Tc= 100X3,A,】FSM,Tc=100*C,rp= 10ms,A,Tjm,V,T?tg,匕,2CK38A 100,30 300 175 -65~175 -65-175,2CK38B 140,2CK38C 180,2CK38D 220,注:l)Tc>100じ时,按0.4A/C线性降额,3.3.2主要电特性(Ta = 25じ),型号,%,If = 30 A,V,Iri,Vr= Vrwm,以,3,Vr= Vrwm,Ta =150 匕,由,片,If = 0.5A,Ir = 1A,ns,c.,Vr=12V,片 1MHz,pF,R(*h)j-c,Ih = 4A" = Is,ly- 10mA,K/W,最大值最大值最大值最大值最大值最大值,2CK38A,1.2 15 2000 150 1000 1.2,2CK38B,2CK38C,2CK38D,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 4023、GB 6571及本规范的相应规定,3.5 标志,器件的标志应符合GJB 33和本规范的规定,3.5.1 极性,器件的引出端1和2为正级,管座为负极,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验符合GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验符合GJB 33的规定,4.3 筛选(仅对GT和GCT级),筛选按GJB 33表2和本规范的规定进行,其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规,范表1极限值的器件应予别除,—3 "",SJ 50033/117-97,筛 选,筛 选,(见 GJB33 表 2),GJB 128,方法号,测试或试验,(GT 和 GCT 级),3.热冲击,(温度循环),1051 除高温150。,循环20次外,其余同试验条件C,5.密封,a细检漏,b粗检漏,1071,试验条件B,试验条件C,7.中间电参数和,(4)参数测试,/ri、Vf,2VfW0.1V,4HA或100%初始值?取较大者,8.老炼1038 试验条件B,见 43.1,9.最后测试【取、昨、”、ル,AVf<0,1V,A/ri44心或100%实始值,取较大者,11.外观及机械检验2071,见附录”A,4.3.1 老炼条件,老炼条件按如下规定:,Tc=1004C,f= 50Hz正弦半波,1。= 30 A,i = 96h,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33和本规范的规定进行,由A组、B组和C组检验和试验组成,4.4.1 A组检验,A组检验按GJB 33和本规范表1规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验按GJB 33和本规范表2规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验按GJB 33和本规范表3规定进行,4.4.4 B组和C组电测试,B组和C组电测试按GJB 33和本规范表4规定进行,4.5 检验和试验方法,检验和试验……
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